定量巖石自動圖象分析光學顯微鏡制造廠商
自動圖象分析系統在定量巖石學研究中是一種很有用的技術。在應用上它雖還不夠盡善盡美,但當我們在各種地質樣品的研究上取得更多的經驗以后,這種方法的應用范圍就能擴大。
合用的干涉顯微鏡,那在作探針研究之前先在干涉顯微鏡下進行詳細觀察,就可大大節省電子探針分析的時間和經費。此外,干涉顯微鏡對鑒定兩面拋光超薄片的粘土礦物,也是一種有力的工具。
電子探針的較明顯缺點是它不能分析原子序數小于12的輕元素,同時,許多元素的檢測限較好只能達到50-100ppm的水平。但是,電子探針在對兩面拋光薄片中的礦物主元素和次要元素作分析時,確是一種十分有用的設備。電子探針不能提供礦物的X射線衍射資料。
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