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偏光顯微鏡可以用來測量礦物表面的折射率




來源:yiyi
時間:2014-8-21 17:46:05

偏光顯微鏡可以用來測量礦物表面的折射率

    細小的點的象看起來如被不明顯的同心圓所包圍的點子,同樣,一
條棱邊(或其它的明亮線條源)也具有與之平行趨向的暗淡線條(有時

    可能錯誤地解釋為層狀結構)。在棱或點子的旁邊往往只看到第一
個強度極小值并在明亮的象周圍產生黑帶。由于傾斜區(例如氧化物臺
階)

    把光線反射到光學系統之外;由于反射表面高度上突變所引起的偽
貝克線;

    由于覆蓋著反射表面的高折射系數透明層的厚度突變所引起的某種
類似真貝克線的東西,以及在氧化物和氮化物斜面上的干涉效應等都會
使圖象出現象框。

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