高分辨率圖像金相顯微鏡制造廠商-顯微物鏡型號

    由于成像的高分辨率性能，原子力顯微鏡（AFM ）研究中總取樣
面積本來就很小。因此，在所產生的圖像中確定樣品的代表性特別重
要。如上所述。低電壓（場致發射）掃描電子顯微鏡（SEM ）

可以被認為是原子力顯微鏡技術的補充，由于其適用于少量制取的
生物樣品并可提供未包被的樣品的高分辨率圖像。該技術可適用于
許多相對大面積樣品的成像，

    并且通常可提供分辨率足夠高的圖像，用于確認原子力顯微鏡圖
像。此外，該技術提供了高分辨率的樣品的先驗知識，從而確保正確
解讀以后的原子力顯微鏡（AFM ）圖像。在鮑德退（Baldwin ）等人
的研究中，兩種淀粉類型團粒表面的學結構的原子力顯微鏡和低
壓掃描電子顯微鏡（LVSEM ）成像有很高的相關性。從而得出以后的
原子力顯微鏡成像有代表性的結論。

(本文由上海光學儀器廠編輯整理提供, 未經允許禁止復制http://www.xjwdx.com)