金相顯微鏡是用來檢測金屬試樣或礦物等樣品

    對體視顯微鏡下方目標照明的光線通常由附在與物鏡底部同一水平
上的環形光源提供。還叮采用其他間接照明形式。如光纖光源。

體視顯
微鏡一般未配備透射光系統（從樣品底部照明）或配備入射（反射）光
系統（光線經物鏡向下反射到樣品上，再往回經顯微鏡向上反射）。

    用于電子學領域的另一類顯微鏡是入射光顯微鏡。這類顯微鏡稱為
金相顯微鏡已有許多年，因為它們用來考察標準亮場透射光顯微鏡不能
觀察的金屬樣品或不透明樣品。

當檢測入員需要低放大倍數體視顯微鏡
不能提供的較高放大倍數、并且愿意接受較小景深和較短工作距離時，
便使用這類顯微鏡。用這類顯微鏡可以獲得高達700x的放大倍數。

    這類顯微鏡的用途通常已高度專業化。在電子故障分析的情況下，
通常被用在電子探測臺上。

(本文由上海光學儀器廠編輯整理提供, 未經允許禁止復制http://www.xjwdx.com)