高圖像質量光學顯微鏡常識-光源到物鏡二維圖像
當透射光線到達檢測器時，彩色的電子束分裂器將激發光線反射
至樣本。光源到物鏡的光路和物鏡到檢測孔的光路本質上是一樣的。
因此。照明和檢測孔都聚焦在樣本上的照明點，這就是為什么把
該系統叫做“共焦”。由于被檢測的信號通常十分微弱，使用的檢測
器是一個光電倍增管。
共聚焦系統中，一次只能觀察一個點。因此，為了形成一個圖像。
那個點必須被掃描。
同時記錄測試到的強度。這通常依靠兩個鏡子掃描光束來實現，
叫做共焦激光掃描顯微鏡方法（confoeal laser seanning mieroseopy，
CLSM）。
測試到的強度被記錄并且在一個主機上顯示出來，掃描系統也是
靠主機驅動的。獲得的所有沿軸向的薄區域很大程度上已經沒有了非
聚焦光線，這種效果叫做光學斷層，然后，沿Z 軸重復掃描X 一Y 平
面就可以獲得可供分析的三維圖像。
單個平面在所有Z 區域的投影都會得到一個二維圖像，與常規顯
微術不同的是，CLSM得到的僅是聚焦區域的信息，因此較大的場深是
通過疊加非常薄的聚焦區域得到的。
要采集到較好的圖像，必須結合以下三個因索：激光強度、共聚
焦孔的尺寸和放大器的增益。增加任何一個因素的參數都會使圖像更
明亮，但是會損害圖像質量。如分辨率降低、信噪比降低或者使圖像
漂白。
