一般包裹體的粒度常小于50μm-測量顯微鏡型號
在冷熱臺上的光學圖像遠比標準顯微鏡成像差。因此，測試之
前的包裹體研究工作是在標準顯微鏡下進行的，尋找到理想的包裹
體，確定包裹體的成因類型和捕獲后是否變化，
估測包裹體的成分、鹽度和近似的均一溫度，大量的記錄、素
描和攝像等工作在標準顯微鏡下進行更方便和效果更佳。認真細致
的進行這些工作將節省花費在測試實驗上的大量時間，更重要的是
能捕獲到更多的成巖成礦信息。
多數包裹體的粒度常常小于50μm(0.05mm) ，使用普通國產顯
微鏡時，通常放大250 倍后才容易找到包裹體，要詳細觀察包裹體
的內部細節，至少要放大到400 倍~500倍。高放大倍數對單個包裹
體的研究是必要的，
但也不應忽視低倍鏡的使用。100 倍或更低的低倍系統能觀察
到樣品中更大視域內的情況，因此觀察者首先應該使用低放大(x 100)
系統對整個片子進行粗略的瀏覽，
確定可能存在的包裹體位置。低倍(x 100) 鏡下樣品中平均粒
度10μm 左右的包裹體呈小黑點狀以群體或呈枝蔓狀定向分布，這
時把物鏡換成較高的倍數，對準黑色斑點，同時提升物臺下聚光鏡
使其更接近樣品，調整好焦距，包裹體就清晰可見了。
使用低倍鏡對揭示包裹體生長帶、顆粒邊界和顯微裂隙之間的
關系十分方便，這對確定包裹體的成因類型很有好處。因此包裹體
觀察過程中經常是交替使用低放大倍數和高放大倍數系統。
