相襯顯微鏡可加大圖象的襯比度-應用于礦物顆粒測定

    相差光學顯微鏡是一種利用相襯差別來研究礦物精細結構的有效工
具。

    相差光學顯微鏡技術的裝置和基本原理

    相襯顯微鏡能加大圖象的襯比度，如果研究對象在折光率上有一點
變化或差別，或者光程的長度有變化，都可在顯微鏡上觀察出來。這些
變化發生在樣品上礦物顆粒的邊緣部分，因而常使相差現象成為一種邊
緣效應。

    貝克（Beck）透射光相差系統，從圖中可見聚光鏡里的環形空圈板
和物鏡里的相位板。樣品由通過環形空圈板的空心錐或亮環照明。光束
b 通過物鏡后在物鏡的后焦點平面上產生環形空圈板的圖象。在這個平
面上，

    正好裝有一塊相位板，其上的下降環正好與聚光鏡里的環形空圈相
匹配。該環下降的量正好使光的相位產生1/4 波長的相差。因此，光在
通過下降環以后，與經樣品散射和繞射的光（光束c ）一起，偏離了原
來的相位，經過與光束：的干涉后，就形成了我們在鏡下所觀察到的圖
象。

    只是在觀察前應注意把聚光鏡的環形空圈圖象焦距調準確，同時要
與相位板上的環對準。