光學顯微鏡檢測不同陶瓷的顯微結構特征和晶粒
許多共他方法對測定陶瓷材料的相分布、形貌及特性是有用的。
相顯微檢查技術使深度分辨力大大增加。對拋光切片或薄切片采用偏
振光，則有助于相的鑒別。
立體顯微術、X 射線顯微術、暗視場電子顯微術、以及許多其他
特殊方法都是有用的，并應對每一個特殊問題考慮可行的方法。
較適宜的方法因樣品而異，而且任一普通規則都可能遭遇到許多
例外。
對大多數研究目的來說，制備拋光切片并用光學顯微術或掃描電
子顯微術和X 射線衍射或顯微相鑒定法檢驗拋光切片，構成一個良好
的基本檢測程序
陶瓷導論所依據的主要原理之一是陶瓷制品的性質不僅取決于相
的組成和結構，還取決于相的排列。
成品的相分布或顯微組織取決于初始的制造工藝、所采用的原料、
相平衡關系以及相變動力學、晶粒長大和燒結。
能測定的顯微組織的特征是
（1 ）現有的相的數目和識別，包括孔隙在內，
（2 ）每一個相的相對數量，
（3 ）每一個相的特征，例如相的大小、形狀和取向
研究顯微組織的方法。研究顯微組織采用過許多不同的方法，較
廣泛使用的兩種光學方法是：用透射光觀察薄切片和用反射光觀察拋
光切片。薄切片法采用光線透過0.015~0.03毫米厚的切片。
制備切片時，從材料上切下一個薄片，將薄片的一面拋光，把這
個面粘在顯微鏡的載玻璃上，然后將另一面研磨并拋光，以得到所要
求的均勻厚度的切片。這種方法的優點是，能測定每一個相的光學性
質，從而鑒定出所有的相。這個方法有兩個
主要缺點：第一，樣品制備困難；第二，許多細品粒陶瓷材料的
個別晶粒，其尺寸小于切片厚度，這將引起混亂，尤其對于一個不熟
練的人更是如此�？傊枰邢喈數慕涷灢拍茌^好地利用薄切片法。
