顆粒投影測量光學顯微鏡-球形顆粒的樣品

    有些樣品如泥質膠結的砂巖，不易松解。要側量其中砂粒的粒度，
可將砂巖直接磨成片狀樣品，用反射顯微鏡（金相顯微鏡）測量。此外，
對較粗的粉末，也可在務使分散的條件下，將顆粒包埋在樹脂類物質中
成為塊狀樣品，磨光后對磨光面進行觀察測量。此時應注意所謂截面效
應的問題。透射顯微鏡測的是顆粒的投影像，而反射顯微鏡測量的是塊
樣的磨光表面（即光反射面）對于顆粒所截的輪廓像。對于包埋著許多
球形顆粒的樣品，磨光表面所截的國的直徑會普遍小于球粒直徑。

    制備樣品時的揉研非常重要。若不適當，則顆粒不但達不到分散，
反而會團聚。并且要注意不要使較大顆粒被推移到載片的邊緣，以免影
響被觀測顆粒的代表性。此外，若顆粒較脆而且較大時，揉研不當會導
致顆粒粉碎。這時應采用其它方法。

    例如先制成分散良好的懸浮液，然后噴到載片上。

    制備顯微鏡樣品還可用其它各種不同的方法，

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