熒光顯微鏡結構特征之照明裝置有哪些類型
熒光顯微鏡檢術采用的照明系統的主要類型是：透射式暗場、亮
場照明和入射式暗場照明，后者用環形聚光器，或者通過一個普通的、
適于亮場照明的顯微鏡物鏡作入射照明。
日常的熒光顯微鏡檢術中，一般用分級暗場照明或通過普通物鏡
作表面照明。
然而，在測微熒光術中，常常要把上述照明類型結合起來。
暗場聚光器
在用暗場聚光器的情況下，聚焦在樣品上的激發光錐不直接進入
顯微鏡物鏡，而構成中空的光錐，光錐的頂點落在樣品平面內。只有
當存在顯微鏡樣品時，光線才被折射進入物鏡，于是形成暗場像。暗
場聚光器特別適用于熒光顯微鏡檢術，因為熒光顯微鏡的數值孔徑
（NA）較高。為了得到恒定熒光讀數所需要的、可多次重復的照明條
件，必須預先極小心地讓聚光器聚焦和精確對中
亮場聚光器
亮場聚光器很少用于日常的熒光顯微鏡檢術，因為暗場聚光器產
生的像反差高得多。然而，在測微熒光術中，根據樣品吸收透射光的
程度及其熒光象，可以用它來尋找并挑選顯微鏡制品中合適的區域。
測微熒光術中，測量前要把物體引進測量視野內。因為尋找物體
并把它小心地對在測量光闌中心內常常很費時間，所以這一步不宜用
強度高的表面光完成，否則FRP 會發生不希望的、迅速的衰減。由于
若干種FRP 也有吸收像，在用低壓燈為光源，用透射式亮場照明時能
夠觀察到。
在這些情況下，實際上不存在FRP 的衰減。某些雙染技術中，同
一個顯微鏡樣品上只有一種FRP 能用熒光顯微鏡檢術發覺
在這種情況下，同樣的分級亮場聚光器也必須用于熒光顯微鏡檢
術。如果具有現代高質量的短波通干涉型干涉濾波器，用分級亮場聚
光器常�？梢缘玫椒床顫M意的像
