上海光學儀器一廠偏光顯微鏡的原理

    把光的偏振性質用于顯微鏡成像技術中即為偏光顯微鏡59XC，廣泛應
用于地質學研究中，利用晶體光學的原理和方法來研究礦物、巖石結
構等。

    透過光顯微鏡是利用透明樣品本身以及它和四周介質之間的明暗
差別和顏色差別來進行觀察和測定，物體除明暗、顏色的差別外，還
有均質與非均質的差別，非均質木身強弱的差別，光學厚度的差別等。

    要想把這些差別在顯微鏡中變成人眼能觀察到的明暗反差和顏色
反差，必須采用不同的照明光源或其他方法。

    偏光顯微鏡就是把樣品放在起偏鏡與檢偏鏡之間，起偏鏡位于聚
光鏡下面，檢偏鏡位于物鏡上面，兩偏振鏡的振動面互相垂直，視場
是暗的。

    當光線通過起偏鏡后產生一平面偏振光，此偏振光通過樣品時分
成兩束互相垂直的偏振光，由于它們速度不同，通過樣品后產生一定
的光程差到達檢偏鏡，而檢偏鏡只允許某一方向的振動通過，因此通
過檢偏鏡后即變成具有一定光程差的同方向振動的兩束光，由此發生
干涉而形成干涉圖像。

    干涉圖像受樣品的光學性質、樣品厚度、光波波長三個因素的影
響，只要確定了后兩個因素，即可憑干涉圖像的不同確定樣品的晶體
性質。