鐵譜分析儀-固體顆粒尺寸的測量光學顯微鏡
利用電子掃描顯微鏡和x 射線能譜儀。可以對大多數磨損顆粒的
成分作出準確的判別斷，但由于這種方法操作繁瑣，設備昂貴。因此，
通常采用較為廉價的光學顯微鏡作為磨損顆粒的識別工具。后者還具
有直觀、快速和方便等優點。
固體顆粒尺寸的測量
一、測量時所用的光源用偏振光測量，將顯微鏡上的反射光偏振
器旋轉一角度，直至譜片上未浸潤過油液的干凈部分呈較暗色為止，
此時譜片上其它黑暗區域上的穎粒因其消偏作用而顯得明亮。
二、長與寬尺寸的測量轉動顯微鏡載物臺，使所測顆粒的長度位
于視域標線的縱向。操縱載物臺使標線切于顆粒的一端邊緣，記下座
標位x 讀數。再縱向地操縱載物臺，使同一標線切于顆�？v向的另一
邊緣。記下座標位置讀數。此二次座標位置讀數之差。即為被測顆粒
的長度。
同理沿橫向進行類似操作。便可測量出該顆粒的寬度。
三、厚度的測量作顯微鏡對焦的精調旋鈕上，有兩只微米級的刻
度盤�？捎脕泶_定順拉的厚度。方法是：
1 ）先把焦點聚在譜片的上表面。實際上近似地以一極小顆粒作
為參考點，對它聚焦。效果相同而更為方便，此時記下精調旋鈕的讀
數（位于載物臺升降機構上）；
2 ）把焦點聚在待測顆粒的頂端，再記下在精調旋鈕的讀數。
這兩次讀數之差，便是待測顆粒的厚度。
