相襯顯微技術的原理和成像的特點-光學顯微鏡廠家

相差（相襯）顯微術的原理和成像的特性

    相差（相襯）顯微術的原理主要來源于相差（相襯）法。所謂相
差（相襯）法，即利用兩個不同光程（opticalpath ）的光波互相干
擾，產生干涉現象，使肉眼能看見未染色的組織結構。

    因為當光線透射透明的厚度和折射率與周圍介質折射率不同的物
體（相位物體）時，雖然相位也發生變化，但振幅（明，暗）和波長
不變，所以不能用眼睛識別出來。

    而相差（相襯）顯微鏡則是靠裝在物鏡內的相位板使直射光和繞
射光發生干涉，使相位差轉換成振幅差（明暗差），使觀察者能從顯
微鏡中看清標本。

    相位差分為兩種情況：
    ①正反差（暗反差），明中之暗（標本比背景暗）
    ②負反差（明反差）：暗中之明（標本比背景明亮）。

(本文由上海光學儀器廠編輯整理提供, 未經允許禁止復制http://www.xjwdx.com)