怎樣方便的使用偏光顯微鏡測量巖石厚度

    直接測量法在單偏光顯微鏡下準焦礦物上表面上一質點，記下微動螺
旋上的刻度值，然后將礦片移出視域，轉動微動螺旋在載玻片表面上
準焦一點，再記下此時微動螺旋上的刻度值，兩刻度值之差乘以每刻
度代表鏡筒升降的距離即為礦片厚度d.

    用此法測量礦片厚度，首先應知道微動螺旋每一格所代表的值
（鏡筒升降的距離）。微動螺旋圓軸一般分成50格或100 格，微動螺
旋轉動一圈，物臺或鏡簡升降0. 1mm. 囚此，當只轉一格時，物臺或
鏡筒升降（0. lmm/50 或。- 1mm/100 ）0.002mm 或0. 001mm

    該法得到的只是一個近似值，這是因為：

①由于載玻片、物臺并不完全平滑，移動礦片會影響測量精度；
②從礦物表面到載玻片表面，其中還包括響測量精度；
②從礦物表面到載玻片表面，其中還包括層樹膠厚度。

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