使用偏光顯微鏡下觀察砂巖的成巖-石英顆粒分析

    在偏光顯微鏡中觀察砂巖的成巖作用，發現石英顆粒都緊密接觸時，
對確定顆粒鑲嵌的原因是由于次生加大引起的還是由于壓實作用引起的
是有一定的困難的，

通過陰極發光顯微鏡來研究可以發現部分顆粒仍是緊密接觸.而部分石英
顆粒周圍出現了次生加大的現象.這說明原來顆粒是分散的.是由于次生加大
的原因使顆粒相接觸緊密。這種次生加大的不均勻和顆粒接觸的不均勻情況
在偏光顯微鏡下觀察是較困難的.而在陰極發光顯微鏡下則可一目了然。

這顯然是壓溶作用的結果，溶解出來的硅質到有孔隙的地方就可以產生石英
的次生加大所以說壓溶作用與石英的次生加大實際上是二氧化硅質的再分配。

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