金屬樣品熱加工孔隙和裂紋檢測用金相顯微鏡

    透射電子顯微鏡它包括將物體切成薄片(現今包括硅
酸鹽，采用離子轟擊)使電子能夠透過，圍繞位錯的彈性應變引起
電子衍射，所以位錯呈明暗線條顯示出來，對于實驗形變的天然
礦物和巖石來說這是一

種非常有用的方法，因為它提供了位錯分
布的直接的證據因而能告訴我們有關變形和恢復的機理

    溫度較低時，顆粒界面阻止位錯運動的發生，因而增加應變
硬化的速率。所以，一般來說，單晶較之同相的多顆粒集合體更
容易變形。因為顆粒界而阻礙位錯運動，所以它們就成為強應力
集中的地方。如果顆粒不能適應周圍的應變(即如果條件有利而
沒有足夠的滑移系統)，界面就會出現孔隙或裂紋。如前所述，
這可能導致碎裂，因此在低溫條件下及/或應變速率快時變形的
多晶粒硅酸鹽中，特別是那些對稱性較低的硅酸鹽(如層狀硅酸
鹽)中，我們可以看到孔隙和裂紋。

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