金相截面測量厚度的常用方法-多功能一體金相顯微鏡

鍍層厚度
    雖然化學鍍鎳層的鍍層厚度，很大程度上可以決定它的質盤
和用途，但厚度本身并不是性質。

    當測試的樣品具有簡單的形狀(例如板、管等)，只要簡單的測
量就夠了。但是，當形狀復雜時，需要一個定位夾來保證千分表或
數字千分表總是測在同一位置上.良好的干分表有±2μm以下的
精度。

    金相截面法測量厚度的通用方法

這種簡單的方法特別適合于厚度55m以上的鍍層.由于金相顯微鏡
分辨率的限制，較薄的鍍層能夠#471量到±0.5μm。金相截面法
不適合測量厚度2μm以下的鍍層。

    磁性法規定(DIN50981)測量鐵磁性基底上的非鐵磁性鍍層.
有兩種不同的測量原理。

    吸力法中，測量鍍層厚度是利用永久磁鐵和基底之間的吸力
大小與兩者之間的距離的關系。這一距離就是鍍層厚度。
    在基底本身拋得非常光的情況下，使用適當的設備和正確的
工藝條件，可以沉積出很厚的，反射率很高的鎳磷鍍層。

有200μm一P(12%)化學鍍層的光學反射鏡，很高的反射率，加
上經久的光亮度解決了空間應用有關的特殊問題。

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