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斜截面光學技術的應用-樣品測定用光學顯微鏡




來源:yiyi
時間:2014-11-6 17:43:19

斜截面光學技術的應用-樣品測定用光學顯微鏡

雖然斜截面
法不是一種光學技術,但是對斜截面法決定性的檢驗是采用光
學技術。而且因為正象我們將要肴到那樣,這個討論自然會使
人們去考慮某些有關的光學技術。

    在斜截面法中,正如其名稱含意那樣,切面以一個小角度
a傾斜地切入被檢驗表面,因此有效地放大粗糙度的高度,放
大系數為ctga,然后用上海光學儀器一廠光學顯微鏡來測定。

    被切表面在切斷時必須用粘著的涂層加以保護,以防止
輪廓沾污。涂層必須堅固地粘著在表面上,必須有同樣的硬度,
不能擴散進入表面,并且以后不會受任何腐蝕的影響。
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對于鋼來說,這些要求是用電鍍0.5 mm厚度的鎳來滿足。樣品是放
在平面磨床上,以1°與6°之間角度來磨削(角度可根據需要
放大倍數而定),直至鍍層與基層之間的邊界沿著樣品前進達
到一半長度為止。

這樣加工過的斜截面又經過磨盤細磨、研磨,可能較后輕度地酸
洗或氧化著色,為光學檢驗提供良好的對比度。

斜截面法主要優點是它的準確度。

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