巖石結構礦物顆粒晶粒直徑測量工具顯微鏡
組構分析的目的是查明巖石中晶體的方向:同一種礦物的許
多顆粒的方向測定出來之后，就可以統計性地得出亞組構赤平投
影圖，根據一套這樣的圖解，就可以把組構測定出來。組構的對
稱性與產生組構的變形作用的對稱性有關系。
微觀分析是指用上海光學儀器立體或巖相顯微鏡和光學顯微鏡
對所有可見的結構特征進行觀察。因此，它主要研究毫米級的細節，
根據這些細節，可以描述礦物顆粒等級的巖石結構情況。
微觀分析在傳統上可分為結構研究和組構研究。
結構分析的目的在于查明礦物生長的方式及礦物結合的方
式，以便把結晶作用的歷史重現出來。結構分析還應研究顆粒的
分布，因為它常常表現為與侵人過程有關的巖石定向結構。較
后，這種分析還可以把來源于巖漿結晶作用的物質與其他具有更
復雜歷史的物質區分開來。因此，結構分析可用于確立每種巖石
形成的主要過程。
但是，在這個階段，通過上海光學儀器一廠光學顯微鏡分析結構
區分兩類亞組構。
一種礦物的顆粒可以在其結晶的晚期或在重結晶過程中定向，
以嵌晶或填隙形式(通常呈他形)出現，這個方向表示結晶網在各向
異性應力場(該應力場作用于已經形成的并且可能處在現有位置
上的深成巖)中的定向發育。與此相反，能用以確定深成作用的
亞組構乃是顆拉被巖漿流動所定向的記錄，所以這些顆粒是早已
形成了的，往往呈自形，形成帶狀和常常連結成聚晶狀
