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讀數顯微鏡,取兩個讀數平均-工具型光學儀器




來源:yiyi
時間:2014-11-2 18:15:27

讀數顯微鏡,取兩個讀數平均-工具型光學儀器

    (1)半周期法:對于周期誤差,如取相隔180°方向的兩
次讀數的算術平均值,便可消除。例如測度盤可在相距半周
期上置兩個讀數顯微鏡,取兩個讀數平均,就可消除此誤差。

    (2)對稱法:對具有線性的系統誤差,也可以取對稱于
中間數的兩邊測量值的平均數消除此誤差。例如測量儀器均
勻地受溫度影響而使測量值均勻地增大或減小

即可消除系統誤差的影響。
    以上所討論的消除系統誤差的方法并不可能將全部誤差
都消除掉,而只能說是絕大部分的誤差被消除,因此只是近似
于實際值。

    從偶然誤差的特性中知道,測量誤差愈大,它出現的概率
愈小,也就是說大誤差出現的機會是很小的。但是,由于測量
者不小心在測量過程中偶然讀錯、寫錯、算錯等等因素還是可
能存在的,這是明顯歪曲測量結果,應設法發現和剔除它。

    要發現單次測量有無過失誤差,一般是重新測量一次看
它是否相差太多。

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