材料實驗中光學顯微鏡是常用的儀器-備制技術改制試樣
光學顯微鏡地顯微實驗室充滿著活力。在廣泛會用SEM和TEM（透射電子顯微
鏡）及其他電子儀器的時代。立體的和復合的光學顯微鏡繼續在材料分析中起
著重要作用。
光學顯微鏡可用來解決許多在材料科學工作中遇到的問題。而不必使用花費
更高的SEM分析法。即使在SEM的研究很有必要的情況下。光學顯微鏡在總的分
析工作中仍起著重要作用，它可以用來做較初的基礎工作，在被檢測的試樣用
電子鏡觀察之前用備制技術改制試樣時，光學顯微鏡提供參考用的顯微照片。
借助光學顯微鏡所進行的較初階段的工作，不僅幫助了電子顯微學家。并且為
較后的分析報告提供了輔助的資料。
當我們收到一個需要作微結構分析的樣品時，應先使用低倍率光學顯微鏡做
一粗略的檢查來決定怎樣分析較人效。由于SEM的放大倍率和效率經及它的X光
檢測器，大部分的樣品較終會用SEM來分析。
但是，即使一個樣品需要作SEN分析，光學顯微鏡可以對這種分析進行補充
，它可以確定那些需要研究的區域的位置，如缺陷和雜質的部位，并可提供一
個樣品的顯微攝影圖。
盡管SEM很有用，但它沒有彩色成象，也沒有觀察表面經下深度感的優越性
。在表面現表面以下尋找有色粒子是光學顯微鏡的一大特點。彩色的顯微照片
不僅顯示所研究區域的自然狀態，還可以向SEM的操縱者指明分析的特定區域
