電子顯微鏡(SEM)對拉伸鋼材截面觀察其微觀特征
掃描式電子顯微鏡(SEM)拉伸破斷面觀察
將常溫及高溫拉伸破斷面之試樣靠近斷裂尖端處切下,并以碳膠固定于基座上,利用LV-SEM 之低真空掃描式電子顯微鏡在操作電壓10KV 下觀察拉伸破裂時之斷裂面。
光學顯微鏡(OM)顯微組織觀察 將切割完的試樣,將軋延材與退火材欲觀察的面為垂直擠制、軋延方 向的橫截面切取及冷鑲埋后,如圖3-3 所示,以#240、#1200、及#2400 砂 紙將表面粗拋后,再以以1μm、0.3μm、0.05μm 氧化鋁粉拋光。拋光后 以腐蝕液加以腐蝕(Picral 腐蝕液成分為表3-2 所示),腐蝕時間約為數十 秒,視腐蝕狀況可延長腐蝕時間,再以清水沖去表面腐蝕液后以烘干機將 表面干燥,較后再以光學顯微鏡進行觀察,并以CCD 截取圖像,而后利用線截取法量取晶粒之尺寸
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