近場光學顯微鏡在納米測量的應用簡介

近場光學顯微鏡對于現今奈米尺度量測 上有高空間解析的能力
，是分析次波長微結構 不可或缺的工具。

因其空間分辨率受限于光纖 探針的尺寸，為近場光學顯微鏡中
關鍵部份， 探針自制能力，并且利用自制的探針與外差式近場
光學干涉儀結合已具有不錯的成效。

再者，對于近場正交式的架構已有初步的模擬結果。對于輻射狀
偏極態入射光在近場光學用探針模擬也觀察到了超小聚焦的現象，
有助于提升近場光學顯微鏡之分辨率

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