金相試樣顯微鏡下晶粒尺度的量測方法簡介

比較法
(a)主要用在晶粒尺度如附圖所示標準相片晶粒尺度范圍內的完全退火材料。輕度冷加工者，亦可適用。
(b)晶粒尺度的測定：將試片顯微鏡影像或相片與附圖75倍之標準相片進行比較。
   標準相片的晶粒尺度是以面積法求之。
(c)使用75倍率之標準，應用其他倍率時，先與附圖之標準相片中相對應之相片比較，
   再依表1換算成實際晶粒尺度。例如：使用25倍時，
   相當于標準相片0.070 mm時其實際之晶粒尺度為0.210 mm

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