電子顯微鏡借助波長極短的光源可觀察分子的結構
全像顯微術
一般的顯微鏡因為焦深短的限制，無法觀察到非常小的物體，
但全像術應用到顯微鏡的話，焦深可以到極小。
此外，若采用成波長極短的光源，那我們甚至可以直接觀察分子的結構。其方法為，
先對要看的對象物拍一張全像照片，由于在光
學性質上，全像片和實物完全一樣，所以，現在你可以慢慢的用顯微鏡去聚焦此
像中任何一個地方，不必擔心看完這一點之后，再看另一點時，另一點的狀態早
已由于時間的推移而改變了；也不必擔心對象物跑出了聚焦范圍。
全像攝影方便了我們的生活。舉例來說它可以做一些檢驗的工作，稱非破壞性檢
驗（nondestructive testing）首先先拍下受檢物體在正常狀態下的全像片，但暫時
不沖洗。然后對被檢驗物施壓、破壞或加熱，此時再點亮雷射，重新讓感光片再
感光一次，也就是用同一張底片拍兩張全像片（就是雙重曝光）。沖洗之后經雷
射光照射，這全像片就會顯示出被檢驗物體的像，仔細看一下，像上還會有一系
列的條紋。如果被檢驗物品沒有破損和瑕疵（如微小裂縫），這些條紋通常是連
續不間斷的；但如果被檢驗物品之近表面處有破損或瑕疵，條紋通常便會斷裂，
專家們便可依據這些條紋的形狀判別其中有無損傷。
另外還有一種檢驗方法，就是當第一次拍攝完畢后，立即沖洗感光片。同時，對
被檢驗物加壓或加熱，并點亮雷射看全像片，此時我們所看到的被檢驗品，就會
發現其上也有條紋。專家們也是根據此條紋的形狀，可推斷其中有沒有破損和瑕
疵。這種檢驗法稱為“即時檢驗法”。它的優點為：除了可發現物體有無破損之
外，還可以追蹤物體在被加壓或加熱的過程中，所發生前后的狀態以及較先發生
破壞的地方；然后據此以改良物品的設計。
缺點則為條紋的深淺亮度對比沒有雙重曝光法那么好
