檢測鋁合金各熱加工制程階段的微結構變化
導電度量測
導電度量測是一種良好的非破壞檢測方法，可用以檢測鋁合金
各熱處理階段的微結構變化，頗為簡便。本研究所使用的導電度計
為英制 Auto Sigma 2000 型，以渦電流（eddy current）之方式，產生
磁場的變化，誘發待測合金中的環形電流，藉以交互作用來量測合
金之導電度。其單位為%IACS（international annealing copper
standard），即以國際退火純銅定義為 100%的導電率，測量材料相
對于國際退火純銅之導電率的百分比。分別量測各合金在鑄態、固
溶后(C0)以及時效后(C6)之導電度變化，藉以探討微量鈹與各熱處理
階段對微結構的變化情形
由于矽粒子、富鐵相以及鋁基地各有不同的灰階，因此影像分
析可對金相觀察的結果予以定量的分析。本實驗是以Buehler公司所
開發的Omnimet-3影像分析儀來觀察微量鈹與不同固溶溫度對矽粒子
和富鐵相的形狀、尺寸等特征的改變情形。影像分析時，每次選取
面積為112214 µm2，每一試片均經20次的取樣，所量測的幾個幾何
參數定義如下：
(1) 總面積(total area %)：指所取每單位面積中，總矽粒子或
富鐵相所佔面積百分比。
(2) 平均面積(mean area)：每個矽粒子或富鐵相之平均面積。
(3) 長寬比(aspect ratio)：取每個粒子較長距離/較短距離。
(4) 平均長度(mean length)：取每個粒子較長距離做為平均
