微量塵埃檢查立體顯微鏡-搭配顯微圖像分析
特性：
本儀器是利用偏光鏡的原理觀察到肉眼無法看到的塵�；虿�
明異物，例如可觀察到安瓶及小玻璃藥瓶內的不明物體
，此儀器亦可接立體顯微鏡，以便更清晰觀察。
光 源
鹵素燈100-300W
6.5kg-8kg
立 體 顯 微 鏡—5X及20X
倍率7~45X，200M;鏡筒:雙目式觀察鏡筒，30度傾斜、可360度迴轉，
雙目可調整眼幅與屈光補償;目鏡:廣角目鏡WF10X/21mm；
另有WF15X、WF20X、WF25X供選擇;物鏡:變焦式物鏡0.7-4.5 Zoom，
可作7X-45X無段式觀察;光源:12V /20W 上下鹵素燈，可打穿透光或落射光，
可調整明暗度;操作平臺:180mm×220mm 操作平臺
線上納米粉體粒徑檢測技術
納米粉體粒徑的量測模式可分為濕式量測與乾式量測兩種。其中，濕式量測主
要是根據粉體因為尺寸的不同，在量測系統中會呈現出不同的特性來加以分析，
以求得粉體粒徑大小，動態光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)與離心沉降分析法
(Centrifugal Sedimentation Analyzer)等即屬此類；而乾式量測通常則是以穿透式電子
顯微鏡(Transmission Electron Microscope, TEM)或原子力顯微鏡
(Atomic Force Microscope, AFM)等直接觀察粉體，將其幾何形貌呈現出來，進而推算出其粒徑大
小，現階段中各種電子顯微鏡的量測優點可以提供局部區域納米顆粒的標準尺寸，
