一般光學顯微鏡配合對焦尋形原理測量三維表面輪廓

利用一般光學顯微鏡配合對焦尋形（Shape from Focus，SFF）原理，并結合較小相鄰反捲積
（nearestneighbor deconvolution，NND）技術即可重建出待測物的三維表面輪廓。
但在量測待測物過程中，若因待測物的表面資訊不足，

則會導致反射光訊號弱，造成訊噪比（Signal-to-Noise Ratio）差，則待測物的三維表面重建雜訊較多，
因此在擷取影像時，CCD 會重複擷取影像再取其平均值以改善訊噪比，由于這個重複擷取影像過程，
會使整體量測的時間增長，為了使量測時間縮短，

可選用較高訊噪比的 CCD攝影機，如此一來，就可兼顧訊噪比與整體系統量測的時間

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