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自動化檢測散熱片的細微缺陷-光路儀器與CCD搭配




來源:yiyi
時間:2013-4-15 19:53:45

自動化檢測散熱片的細微缺陷-光路儀器與CCD搭配

本研究的動機,來自于CPU散熱片制造商的需求,

主要分為二項需求;第一項是檢測散熱片上的各樣式缺陷,這些缺陷會造成CPU散熱不均勻分佈,
容易在缺陷處產生熱應力造成CPU損壞;第二項是如何將檢測系統用于生產線需求,就是自動化流程與檢測速度。

在第一項需求中,必須先克服如何取得較清晰的檢測影像,設計一套光路系統與CCD性能作搭配;再來需要克服,
低訊雜比缺陷影像的檢測,這必須做影像高低頻訊號分析與強化處理,再搭配一些影像處理方法;上述二種方法是為了解決第一項需求。

在第二項需求中,必須設計出可同時檢測多片散熱片的機構,須考慮到每個動件間運動空間與受力分佈,
為了避免產生干涉動作與應力集中造成機構形變;再來需要規劃檢測動作與控制系統的匹配,
其中控制系統包含線性模組、IO模組與取像模組…等,檢測流程與控制系統匹配的方法,
必須透過程式多執行緒的方式達成,利用上述的方法來達成自動化流程;至于檢測速度的提昇,
除了優化程式碼還需要借助環境的調控與設定。

低對比度缺陷影像自動光學檢測機臺設計研發的方法與結果。

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