借助偏光顯微鏡觀察礦物極細小的顆粒結構
使用偏光顯微鏡可以清楚的將不同的礦物相分辨出來。
在顯微鏡下存在于角閃石上之極細粒之微小礦物顆粒,偏光顯微鏡只能看到角閃石中間有個帶狀受過蝕變的現象,
SEM電子顯微鏡底下可以清楚看到這個蝕變的區塊是由許多極細小的顆粒所組成 幫助我們分析礦物內部不同區塊的化學成分,
分析角閃石以及石榴子石的成分,藉以分辨角閃石即石榴子石的成分環帶以及相變的關系。
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