共焦激光掃描顯微鏡降低球面像差

 
經由極化光子對共焦激光掃描顯微鏡降低由樣本引入的球面像差

經由共焦激光掃描顯微鏡系統掃描一個樣本的斷層影像時，

入射光經由物鏡聚焦后進入樣本，
當樣本本身或樣本與周圍液體之間有折射率不一致（refractive-index mismatch）的情況，
不同入射角度的入射光的光程徑（optical path length）均不相同，因此入射光無法完美地會聚至物鏡的焦點

 光致電流顯微術應用于發光二極體靜電放電破壞缺陷的檢測

光致電流顯微術已經廣泛的應用在半導體元件及積體電路上。

使用雙光子鈦藍寶石激光搭配共焦掃描顯微鏡對InGaN發光二極體研究。

從直流光致電流影像中可以清楚的辨認出受到靜電放電破壞的缺陷

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