顯微鏡觀察石綿實驗隨機選擇部分濾紙的視野

目前的一些量測技術中，例如石綿鏡檢方法，均假設氣膠是均勻分佈于濾紙上。
因為石綿之顯微鏡鏡檢是裁切四分之一的濾紙，并隨機選擇這部分濾紙的視野進行分析。

然而在較近研究中已經證實，以等距離或同心圓等面積法，選取整張濾紙進行分析之準確度，
優于傳統的石綿顯微鏡鏡檢法。加上目前已有濾紙采樣均勻度之影像處理及統計方法之研究，

將這些研究結果可以整合，可進行可均勻采樣之采樣器或濾紙匣之研發。
現今的量測技術中，結晶型二氧化矽之采樣分析也需假設氣膠是均勻分佈于濾紙上，

尤其是的分析方法。一般較準確的分析方法是利用高階精密度之X-光繞射法
（X-Ray diffraction spectrometer, XRD），配合銀膜進行。但銀膜、高階XRD相當昂
貴，有待改進研究。近來有研究證實可利用分析方法，直接以可呼吸性采樣
器所得之濾紙分析結晶型二氧化矽。其分析方法較為簡便，但需假設氣膠是均勻分佈于濾紙上

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