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使用金相顯微鏡觀察各試片表面微結構-影像測量




來源:yiyi
時間:2013-3-12 22:51:09

影像分析:
共晶矽的大小及形狀可由影像分析的結果得到量化的比較。不同的改良劑及
含量將造成不同的改良效果。此外,熱處理前后,共晶矽的型態也將明顯不同,
凡此皆可由影像分析的結果加以判定。

本實驗利用 National Instruments IMAQ Vision Builder 6 影像分析軟體來觀察材料之共晶 Si 的形狀、尺寸和分佈情形。
以下為本實驗的幾個測量變數,定義如下:
(1) 平均面積(mean area):每個共晶矽顆粒之平均面積
(2) 深寬比(aspect ratio):以共晶矽而言,指每個共晶矽較長距離除以較短
距離,取所有數據的平均值,深寬比若越小則表示共晶矽越趨球化。
根據Geng Huiyuan等人研究指出,影像分析取樣數在 15 個樣品數以上即可使
實驗結果維持定值

每單一樣品取樣面積為 20553.5μm2,每組合
金取 20 個樣品數

破斷面觀察:
利用掃描式電子顯微鏡(Scanning Electron Microscopes , SEM (JEOL)
JAM-35CF),對拉伸試棒之破斷面進行觀察,可藉以瞭解破斷面破裂情形及裂縫產生處


微結構分析:
金相觀察(OM):
使用金相顯微鏡觀察各合金微結構的差異。金相試片制作是
以砂紙粗磨、細磨后,以氧化鋁粉進行拋光,待試片被拋光至無刮痕時,洗淨試
片并吹乾,置于光學顯微鏡下觀察各合金鑄態、固溶及 T6 熱處理后之微結構,以
瞭解共晶矽的改良情形

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