穿透式電子顯微鏡高分辨力應用于材料微觀結構

而原子力顯微鏡(AFM)具有原子級的解像能力，可應用于各種材料之微觀結構，
能提供材料表面的高分辨影像，故本研究使用 AFM 的研究技術，
來觀察經熱處理后的成核-晶體成長試片之表面，進行奈米微觀結構之觀察與成核密度之分析，

具有可透光性、超平坦表面、晶粒徑效應等特性之透光莫來石玻璃陶瓷，
其制程是將原始成分玻璃(SiO2-Al2O3-B2O3-ZnO-K2O)經成核-晶體成長之兩階段熱處理，

于玻璃基地中生成具有奈米級晶粒且主結晶相為莫來石之玻璃陶瓷，

其特點是具有奈米微觀結構，此微觀結構是由極高成核密度所達成。
對于成核密度較低、晶粒較大(~1μm)的玻璃陶瓷，

可利用光學顯微鏡(OM)或掃描式電子顯微鏡(SEM)來觀察晶體，

另外穿透式電子顯微鏡(TEM)雖然有高分辨力，

但高能量的之電子束常使微小晶體在觀察時產生變化。

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