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測定巖石的孔隙度測定型高精度工具顯微鏡




來源:yiyi
時間:2013-12-6 23:46:40

測定巖石的孔隙度測定型高精度工具顯微鏡


    變形顯微構造的形成,是在一定條件下由于應力作用而使得巖石
內部結構發生調整所完成的。

這種調整或變形過程及其發生所需要的條件總和稱為變形機制。
巖石中會有多種不同類型的變形機制出現。主導變形機制的
出現受多種因素制約,包括內在因素即巖石的礦物組成與內部結構
(粒度、晶格優選、孔隙度和滲透率等)和外在因素即巖石變形的
物理與化學環境(如溫度、壓力、流體、應力與應變速率等)。

目前在巖石和其他結晶物質中,已經識別出的變形機制主要
包括破裂與微破裂作用、位錯蠕變(包括位錯滑移和位錯攀移)
擴散物質遷移以及顆粒邊界滑移等

    應為顯微鏡配備保護罩。顯微鏡閑置不用時應罩好,
以防灰塵進入而損害其光學性能。

無特殊原因,非專業維修人員不宜拆卸顯微鏡。

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