自動定量分析圖像顯微鏡-顯微技術的發展

    掃描電鏡觀察和反射光顯微學研究的分辨本領各有
千秋，兩者又有著密切的聯系。把兩種圖像分析方法結合起來，
進行對比分析，從中找出圖像細節和化學組成的相關性，
是W. Kroenert和W. Zednicek的一大嘗試，

使顯微結構的研究手段已從光學顯微術擴展到光學一電子顯微術
綜合研究的新階段。

    自動圖像分析儀的研制成功，可對材料的顯微結構參數進行定量分析，
它既可以與光學顯微鏡連接，也可以與掃描電鏡聯結;

高分辨率透射電鏡與電子衍射分析術相結合，又將顯微結構分析的
分辨尺度擴大到亞顯微結構及微觀結構的區段。

現在顯微結構分析的理論和技術仍在不斷發展。

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