光學顯微鏡在粒度定量測定中的應用-顆粒圖像分析儀

咨詢電話：010-64034191

圖2

    通過光學顯微鏡、透射電子微鏡、掃描電子顯微鏡可以
直接觀察顆粒的像，并且可以拍成照片。根據像或照片測量顆
粒的粒度。

用透射電子顯微鏡時，若對顆粒樣品采用復型技術或金屬投影技術，
則它類似光學顯微鏡與掃描電子顯微鏡，也可以觀察研究顆粒的外貌

    光學顯微鏡是通用設備，只要測量的顆粒數足夠多，
它是測量粒度的較基本的方法。而且經常用顯微鏡法來標定其它方
法，或幫助分析其它幾種方法測量結果的差異。

(本文由上海光學儀器廠編輯整理提供, 未經允許禁止復制http://www.xjwdx.com)