電子顯微分析技術-掃描電鏡試樣制備簡單

    電子顯微鏡主要有兩類:一類是透射式電子顯微鏡;
另一類是掃描式電子顯微鏡。
它們都利用高速電子同試樣作用時所產生的信息
成像，但兩者所利用的信息種類有所不同，成像原理也有所區別。
透射式電子顯微鏡是利用試樣對入射電子波的衍射成像。
掃描式電子顯微鏡主要利用非彈性碰撞過程中所產生的各種信息

按類似于電視的方式成像。
由于掃描電鏡具有:試樣制備簡單;能對試樣的特定部位同時作形貌、
成分、結構等多項觀察的優點，

因此我們采用掃描電鏡觀察晶纖表面缺陷并用電子探針能量色散譜
(簡稱EDS )對缺陷進行微區分析。

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