金相學研究顯微鏡-金屬構造及熔點測量儀

索比的金相技術，長久以來，對于決定晶粒的形狀和大小，
辨明外來質點和沿著晶粒邊界的雜質膜，以及觀察合金的微觀結構等，
頗有價值。然而，光性金相學（Optical metallography；即是以光學顯微鏡來觀察，
研究金屬構造的一門學問）卻無法決定晶粒邊界的結構──一般相信，

金屬在熔點之下冷卻時，相鄰的晶粒會逐漸使存在于其間的原子結晶化，
較后使得邊界僅剩下一道界面，約一兩個原子的寬度；
而在此界面的兩側，晶軸的走向截然不一。

較近，晶粒邊界的結構圖樣，已由場離子顯微鏡（Field ionmicroscope）測出。
以這種由賓州州立大學米勒（Erwin W. Muller）教授所發明的儀器探測時，
先將針形金屬試品，軸地夾在真空管中

（僅露出尖端，并通以極高的正電壓（如此，則電力線由此尖端輻射而至熒光幕上），再放進微量的氣體，

如氦。當一個氦原子接觸到針尖上的一個金屬原子時，它變成正離子，
并且立刻被排斥而沿著一定的電力線射到熒光幕上，形成一個可見的點像。
大約針尖上一個原子的寬度，能夠在熒光幕上發射成一平方毫米的區域，
因此我們可以從熒光幕上“看見”針尖的原子結構
滑脫與金屬的塑性