TEM穿透式電子顯微鏡應用簡介
 

專業的穿透式電子顯微鏡(TEM)分析技術，包括各種材料試片制備

穿透式電子顯微鏡可應用于材料之表面型態分析、結晶結構分析以及材料成分的分析，并可提供原,子影像觀察，可分析單晶與多晶結構之各種缺陷與鑒定其缺陷種類。

當電子束通過試片時，偵測器可偵測微區特性X-ray及其衍生出的光譜，并利用此光譜來分析未知的材料的化學成分，可提供快速而有力的材料分析。

TEM服務應用有哪些:

    微細結構分析(晶格影像)
    結晶缺陷分析
    元素成分分析
    電子繞射圖分析
    薄膜及厚度分析
    雜質及汙染源分析