光線覓跡是光學設計程式的精髓，雖然像差理論提供許多光學系統行為之理解，

但正確的光線覓跡數據可以讓透鏡設計者對于其設計是否可以如預期的情況提供進一步之確定。

事實上，有時候這個說法并不對，因為光線覓跡數據只描述所追蹤的光束，而不是所有的光束，所以結果可能有誤。

不過，在實用上，光學設計幾乎永遠使用光線覓跡來進行，至少較后在較后階段一定有光束覓跡的分析與驗證
。
光線覓跡的複雜性是二重的。一部份包括演算法的發展，以精確地計算經過光學系統的光束軌跡，

另一部份則包括被追蹤的光束如何去指明(亦即定出其規格)及如何對結果數據的解釋

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